Телефон: +7 921 936 2039

Структура пакета AvaSoft

Меню

AvaSoft-Thinfilm - измерение толщины тонких пленок

Программное обеспечение AvaSoft-Thinfilm — автономный пакет программ, который поставляется с спектрометрической системой определения толщины пленок AvaThinfilm. Система AvaThinfilm подробно описана в соответствующем разделе.

Программное обеспечение AvaSoft-Thinfilm вычисляет толщину слоя при помощи анализа интерференции отраженного спектра от оптически прозрачных пленок с известными оптическими параметрами.

В программном обеспечении AvaSoft-Thinfilm реализованы два метода вычислений толщины тонкой пленки: быстрое преобразование Фурье (FFT) и алгоритм оптимизации наилучшего приближения (спектр соответствия). При помощи метода FFT определяется частота паттерна интерференции, этот метод главным образом используется для определения толщины толстых пленок. Метод оптимизации наилучшего приближения определяет толщину с использованием различных путей вычисления толщины пленок. Соответствующие параметры толщины могут передаваться и использоваться для контроля качества тонких пленок и ускорения обработки данных о характеристиках толщины пленок.

Обширная база данных оптических параметров подложек и покрытий включена в программное обеспечение и содержит параметры продуктов важных областей производства, например, оптические характеристики для вычисления толщины полупроводников и напыляемых покрытий.

AvaSoft-Thinfilm поддерживает множественные каналы и позволяет одновременно отслеживать характеристики образцов по 8 временным рядам измерений для оценки толщины тонких пленок и мониторинга качества.

Программное обеспечение AvaSoft-Thinfilm может быть расширено при помощи дополнений Спектрометрический мониторинг и Экспорт в Excel для исследований и управления в режиме реального времени.

Информация для заказа